1. <tbody id="s6ru7"><pre id="s6ru7"></pre></tbody>
      <rp id="s6ru7"></rp>
      <button id="s6ru7"></button><progress id="s6ru7"></progress>
      <th id="s6ru7"><track id="s6ru7"></track></th>
      
      

      我們的優勢
      CMA資質證書

      證書編號:201719121253

      CNAS資質證書

      證書編號:L7973

      檢測周期短
      多個實驗室緊密配合,快速解決客戶疑難
      服務范圍廣
      覆蓋汽車,航空,軌道交通等多個領域
      檢測項目全
      覆蓋成分,力學,熱學,電學等多個方向
      資質能力全
      CNAS、CMA、NADCAP等各項資質齊全
      服務質量高
      獲得中車 中船 中鐵等客戶的高度認可
      異物分析

      異物分析,是專門分析產品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進行之成分的技術。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質進行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產品最常用的分析方法之一。

       

      應用范圍

      針對產品上的表面污染物、析出物等異常物質,如產品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點等。


      表面異物分析項目

      1.有機異物分析

      2.無機異物分析

      3.未知異物分析

      4.產品異?,F象比對分析


      主要分析方法

      方法

      應用范圍

      紅外光譜法
      FTIR

      1.顯微FTIR, 僅需10um以上樣品即可測試
      2.有機物成分分析 (400-4000cm-1

      掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法
      SEM/EDS

      1.固體
      2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌觀察

      俄歇電子能譜分析儀法
      AES

      極表面 (0-3nm) 分析設備

      X射線電子光能譜分析法
      XPS

      1.更精密的元素分析
      2.元素價態, 存在形式分析

      飛行時間?次離子質譜分析法
      TOF-SIMS

      ppm級別表面有機成分分析

      動態?次離子質譜分析法
      D-SIMS

      ppb級表面及芯部成分分析

      氣相色譜質譜聯用儀分析法
      GC-MS

      1.固體/液體
      2.易揮發組分測試


      分析步驟

      1、表面觀察:主要采用光學顯微鏡觀察(OM)觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內。

      2、異物物質種類判斷:主要采用傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)、顯微紅外(M)判斷異物主要是有機物還是無機物。

      3、有機物分析手段:可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。

      4、無機物分析手段(主要是元素分析):主要采用掃描電鏡能譜儀(SEM-EDS)等。


      測試儀器

      GC-MC.jpg
      電子掃描顯微鏡.jpg紅外光譜.jpg
      XPS.jpg俄歇電子能譜分析儀.jpg原子吸收分光光度計.JPG

      材料分析優勢

      ·獨立公正,精確高效

      ·先進設備儀器,權威實驗室

      ·優質檢測團隊,經驗豐富

      ·價格合理,資質認可報告

      我們的實力
      我們的服務流程
      檢測項目確認
      填寫申請表
      繳納費用
      實驗測試
      發送報告
      增值服務
      免費領取檢測方案
      性生活一级大片,美国毛片视频,德国一级毛片,欧美三级黄色
      1. <tbody id="s6ru7"><pre id="s6ru7"></pre></tbody>
        <rp id="s6ru7"></rp>
        <button id="s6ru7"></button><progress id="s6ru7"></progress>
        <th id="s6ru7"><track id="s6ru7"></track></th>